109級

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	姓名	陳沛蓁
	年級	已畢業
	最高學歷	臺北科技大學 工業工程與管理系 碩士
	研究領域	應用統計、品質管理、工程最佳化
	畢業論文	Auto-Labeling in Semi-Supervised Learning for Wafer Defect Pattern Recognition in Semiconductor Manufacturing
	現職

	姓名	邱上豪
	年級	已畢業
	最高學歷	臺北科技大學 工業工程與管理系 碩士
	研究領域	應用統計、品質管理、工程最佳化
	畢業論文	Image Augmentation Strategies for Wafer Map Defect Classification Based on Vision Transformer Neural Network in Semiconductor Manufacturing
	現職

	姓名	謝家安
	年級	已畢業
	最高學歷	臺北科技大學 工業工程與管理系 碩士
	研究領域	應用統計、品質管理、工程最佳化
	畢業論文	Label Rectification in Semi-supervised Learning for Wafer Defect Pattern Recognition in Semiconductor Manufacturing
	現職